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[1]唐信永,严利平,谭岚.基于空间载波的单波长剪切散斑干涉面内面外变形导数同时测量方法[J].浙江理工大学学报,2021,45-46(自科五):666-674.
　TANG Xinyong,YAN Liping,TAN Lan.Singlewavelength speckleshearing pattern interferometry for simultaneous measurement of inplane and outofplane deformation derivatives based on spatial carrier phaseshifting[J].Journal of Zhejiang Sci-Tech University,2021,45-46(自科五):666-674.
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基于空间载波的单波长剪切散斑干涉面内面外变形导数同时测量方法()
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浙江理工大学学报[ISSN:1673-3851/CN:33-1338/TS]

卷:
第45-46卷
期数:
2021年自科第五期
页码:
666-674
栏目:
出版日期:
2021-09-10

文章信息/Info

Title:
Singlewavelength speckleshearing pattern interferometry for simultaneous measurement of inplane and outofplane deformation derivatives based on spatial carrier phaseshifting
文章编号:
1673-3851 (2021) 09-0666-09
作者:
唐信永; 严利平; 谭岚
浙江理工大学纳米测量实验室，杭州 310018
Author(s):
TANG Xinyong;  YAN Liping;  TAN Lan
Nanometer Measurement Laboratory, Zhejiang Sci-Tech University, Hangzhou 310018, China
关键词:
剪切散斑干涉; 面内面外变形导数测量; 空间载波相移技术; 马赫曾德剪切装置; 偏振态
分类号:
O348-1
文献标志码:
A
摘要:
剪切散斑干涉技术是测量物体变形导数的重要方法之一。针对单波长双光束面内面外变形导数测量系统中的干涉图获取问题，提出了一种基于空间载波的单波长剪切散斑干涉的面内面外变形导数同时测量方法。首先设计了一种单波长剪切散斑干涉测量光路。在该测量光路中，激光垂直入射到待测物表面，采用两个光轴相互垂直的偏振片来保证两个观测方向的光束偏振态相互垂直；使用透镜光阑组合的马赫曾德剪切装置来实现剪切量和载波量的独立调整。然后在剪切量一致的情况下，引入两个不同的载波频率，实现剪切散斑干涉图的相位频率分量在频谱中的分离，并通过空间载波相移技术从记录的剪切散斑干涉频谱图中提取与面内面外变形导数相关的相位分量。最后对载频的引入进行了分析与设计，同时进行了带槽口的三点弯曲实验板的变形测量。实验测量结果与仿真分析吻合，验证了该实验测量系统的可行性。

参考文献/References:

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备注/Memo

备注/Memo:
收稿日期：2021-04-23
网络出版日期：2021-05-26
基金项目：国家自然科学基金项目(51875530)；浙江省自然科学基金项目(LZ18E050003)
作者简介：唐信永(1994-)，男，江西上饶人，硕士研究生，主要从事信号与信息处理方面的研究
通信作者：严利平，E-mail：yanliping@zstu.edu.cn
更新日期/Last Update: 2021-09-16